##  [Dr inż. K. Dziarski na konferencji QIRT 2026](/artykul/dr-inz-k-dziarski-na-konferencji-qirt-2026) 

  ## Data dodania

 13.07.2026 ## Udostępnij:



 [    ](https://www.facebook.com/sharer/sharer.php?u=https://isie.put.poznan.pl/markdownify/node/4642&title=Dr%20in%C5%BC.%20K.%20Dziarski%20na%20konferencji%20QIRT%202026 "Share to Facebook") [    ](https://twitter.com/intent/tweet?text=Dr%20in%C5%BC.%20K.%20Dziarski%20na%20konferencji%20QIRT%202026+https://isie.put.poznan.pl/markdownify/node/4642 "Share to X") [    ](https://www.linkedin.com/sharing/share-offsite/?url=https://isie.put.poznan.pl/markdownify/node/4642 "Share to Linkedin") 

  

  Dr inż. K. Dziarski na konferencji QIRT 2026  ![QIRT 2026 plakat z datą i miejscem konferencji](/sites/default/files/styles/large/public/2026-07/QIRT.PNG?itok=XFF1eytn)

 [Dr inż. Krzysztof Dziarski](https://informator.put.poznan.pl/app/card/view/3d28ab4a-5440-11eb-a9ac-0050568c58f0) z Instytutu Elektroenergetyki Politechniki Poznańskiej wziął udział w [18. Międzynarodowej Konferencji Quantitative InfraRed Thermography (QIRT 2026),](https://qirt2026.unina.it/event/1/) która odbyła się w dniach 29 czerwca – 3 lipca 2026 r. na Uniwersytecie Neapolitańskim im. Fryderyka II (University of Naples Federico II - jeden z najstarszych uniwersytetów na świecie) we Włoszech. Konferencja QIRT jest jednym z najważniejszych na świecie wydarzeń naukowych poświęconych ilościowej termografii w podczerwieni, gromadzącym przedstawicieli środowisk akademickich i przemysłowych zajmujących się rozwojem metod pomiarowych, diagnostyką termograficzną oraz nowoczesnymi systemami obrazowania w podczerwieni.

Podczas konferencji dr inż. Krzysztof Dziarski zaprezentował referat pt. „Use of the RetinaNet Neural Network for Automatic Classification of Diode Package Thermograms”, przygotowany wspólnie z dr. inż. Arkadiuszem Hulewiczem z Instytutu Elektrotechniki i Elektroniki Politechniki Poznańskiej.

W prezentowanych badaniach przedstawiono nową metodę automatycznej klasyfikacji termogramów obudów diod półprzewodnikowych z wykorzystaniem sieci neuronowej RetinaNet. Opracowane rozwiązanie łączy ilościową analizę termograficzną, modelowanie cieplne oraz algorytmy sztucznej inteligencji, umożliwiając szybką i bezkontaktową ocenę warunków pracy elementów półprzewodnikowych. Wyniki badań potwierdzają potencjał wykorzystania metod uczenia maszynowego do wspomagania diagnostyki cieplnej i monitorowania niezawodności nowoczesnych urządzeń elektronicznych.

Udział w konferencji stanowił okazję do prezentacji wyników badań prowadzonych na Politechnice Poznańskiej, wymiany doświadczeń z czołowymi specjalistami z zakresu termografii ilościowej oraz nawiązania nowych kontaktów naukowych. Konferencja QIRT od ponad trzydziestu lat wyznacza kierunki rozwoju badań nad termografią w podczerwieni i należy do najbardziej prestiżowych wydarzeń poświęconych tej tematyce na świecie.

![zdjęcie przedstawia K.Dziarskiego podczas wystąpienie konferencyjnego (po lewej), z prawej widoczny ekran z prezentacją ](/sites/default/files/inline-images/084fc795-721f-4607-a233-98601f083536.jpg)

  

 

 Language PL