##  [konferencja IEEE AI4IM 2026](/artykul/konferencja-ieee-ai4im-2026) 

  ## Data dodania

 09.06.2026 ## Udostępnij:



 [    ](https://www.facebook.com/sharer/sharer.php?u=https://isie.put.poznan.pl/markdownify/node/4627&title=konferencja%20IEEE%20AI4IM%202026 "Share to Facebook") [    ](https://twitter.com/intent/tweet?text=konferencja%20IEEE%20AI4IM%202026+https://isie.put.poznan.pl/markdownify/node/4627 "Share to X") [    ](https://www.linkedin.com/sharing/share-offsite/?url=https://isie.put.poznan.pl/markdownify/node/4627 "Share to Linkedin") 

  

  konferencja IEEE AI4IM 2026  ![AI4IM logo](/sites/default/files/styles/large/public/2026-06/AI4IM_0.PNG?itok=DwSYZo_F)

 W dniach 21–23 maja 2026 r. w Amalfi we Włoszech odbyła się międzynarodowa konferencja [IEEE AI4IM 2026](https://ai4im.ieee-ims.org/2026) – IEEE Symposium on Artificial Intelligence for Instrumentation and Measurement, organizowana pod patronatem IEEE Instrumentation and Measurement Society. Wydarzenie poświęcone było zastosowaniom sztucznej inteligencji w technice pomiarowej, systemach diagnostycznych, przetwarzaniu danych pomiarowych oraz nowoczesnej aparaturze badawczej.

Podczas konferencji [dr inż. Krzysztof Dziarski](https://informator.put.poznan.pl/app/card/view/3d28ab4a-5440-11eb-a9ac-0050568c58f0) z naszego instytutu zaprezentował referat pt. „Automatic classification of transistor die temperature based on thermograms using the YOLO algorithm”, przygotowany wspólnie z dr. inż. Arkadiuszem Hulewiczem z Instytutu Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej.

Udział w konferencji stanowił okazję do prezentacji wyników badań prowadzonych na Politechnice Poznańskiej oraz wymiany doświadczeń z naukowcami zajmującymi się sztuczną inteligencją, metrologią i nowoczesnymi technikami pomiarowymi z całego świata.

![zdjęcie przedstawiające dr inż. K. Dziarskiego podczas wystąpienia na konferencji AI4IM](/sites/default/files/inline-images/AI4IM-71.jpg)![zdjęcie przedstawiające dr inż. K. Dziarskiego podczas wystąpienia na konferencji AI4IM](/sites/default/files/inline-images/AI4IM-73.jpg)

  

 

 Language PL