W dniach 21–23 maja 2026 r. w Amalfi we Włoszech odbyła się międzynarodowa konferencja IEEE AI4IM 2026 – IEEE Symposium on Artificial Intelligence for Instrumentation and Measurement, organizowana pod patronatem IEEE Instrumentation and Measurement Society. Wydarzenie poświęcone było zastosowaniom sztucznej inteligencji w technice pomiarowej, systemach diagnostycznych, przetwarzaniu danych pomiarowych oraz nowoczesnej aparaturze badawczej.
Podczas konferencji dr inż. Krzysztof Dziarski z naszego instytutu zaprezentował referat pt. „Automatic classification of transistor die temperature based on thermograms using the YOLO algorithm”, przygotowany wspólnie z dr. inż. Arkadiuszem Hulewiczem z Instytutu Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej.
Udział w konferencji stanowił okazję do prezentacji wyników badań prowadzonych na Politechnice Poznańskiej oraz wymiany doświadczeń z naukowcami zajmującymi się sztuczną inteligencją, metrologią i nowoczesnymi technikami pomiarowymi z całego świata.
